本系统是测试低载流子迁移率的渡越时间（TOF）系统。它利用有机半导体材料的光导电性质，通过测量样品的光生载流子在外加电场下穿越样品的时间，再根据迁移率与外电场、载流子漂移速度的关系来计算出材料的载流子迁移率。
TOF法是目前测量有机半导体材料载流子迁移率最有效的方法，可以测试能制成薄膜的有机小分子和高分子材料的低迁移率，也可以测试迁移率较低的晶体材料迁移率。